Laser Interferometría

SIOS ofrece una amplia gama de sistemas de medición de precisión y dispositivos de medición interferométrica por láser. Descubra a continuación nuestra cartera de productos para la medición de longitud, ángulo, vibración, rectitud, temperatura, fuerza y otras métricas con la máxima resolución y una baja incertidumbre de medición.

Interferómetro láser de alta precisión

Interferómetro láser de alta precisión

SP 5000 NG

Sistema de medición de longitud

Pedir información
Interferómetro láser de largo alcance

Interferómetro láser de largo alcance

SP 15000 NG

Sistema de medición de longitud

Pedir información
Interferómetro diferencial de láser

Interferómetro diferencial de láser

SP 5000 DI

Sistema de medición de longitud y ángulos

Pedir información
Interferómetro láser de doble haz

Interferómetro láser de doble haz

SP 5000 DS

Sistema de medición de longitud y ángulos

Pedir información
Interferómetro láser de triple haz

Interferómetro láser de triple haz

SP 5000 TR

Sistema de medición de longitud, “pitch” y “”yaw angle”

Pedir información
Interferómetro láser para medición y calibración simultáneas de  alta precisión

Interferómetro láser para medición y calibración simultáneas de alta precisión

SP 15000 C6 NG

Sistema de medición de longitud, “pitch angel”, “yaw angle”, “roll angle” y rectitud

Pedir información
Vibrómetro con distancia focal fija

Vibrómetro con distancia focal fija

LSV 120 NG

Sistema de medición de vibraciones de alta resolución

Pedir información
Vibrómetro láser con distancia focal variable  (objetivo zoom)

Vibrómetro láser con distancia focal variable (objetivo zoom)

LSV 120 NG

distancia de trabajo variable de 240 mm a 2500 mm

Pedir información
Láseres de HeNe de frecuencia estabilizada

Láseres de HeNe de frecuencia estabilizada

SL 02

Patrón de medida para metrología óptica láser y como patrón de frecuencia

Pedir información
Láser HeNe estabilizado en frecuencia y amplitud

Láser HeNe estabilizado en frecuencia y amplitud

SL 04

Patrón de medida para metrología óptica láser y como patrón de frecuencia

Pedir información